引(yin)伸(shen)計(ji)標定儀是(shi)壹(yi)種純機械式的(de)高精度(du)位移測(ce)微(wei)儀器。用於對各(ge)類(lei)引(yin)伸(shen)計(ji)的標定,也(ye)廣泛(fan)用於位移傳(chuan)感(gan)器的(de)檢定(ding)及(ji)相(xiang)應百(bai)分表(biao)、千(qian)分表(biao)的(de)檢定(ding)。
引(yin)伸(shen)計(ji)標定儀結(jie)構(gou)特點(dian)及(ji)讀(du)數(shu)方式:
1、本儀器由精密(mi)微(wei)分測(ce)頭(tou)及(ji)測(ce)量(liang)支架組成(cheng)。該(gai)標定儀是(shi)積(ji)木式結(jie)構(gou)設(she)計(ji)。將(jiang)精密(mi)微(wei)分測(ce)頭(tou)及(ji)支臂(bi)以(yi)多種方式或(huo)位置(zhi)組合,同時配(pei)有加長(chang)立(li)柱附件(jian),配(pei)有圓柱、板(ban)、刀片(pian)等多種形式的(de)分離(li)試(shi)樣(yang),可以(yi)方便(bian)地進行(xing)多種規格(ge)型(xing)號引(yin)伸(shen)計(ji)的計(ji)量(liang)標定。用戶還可以(yi)根據自己的(de)測(ce)試(shi)特(te)殊需要,配(pei)置專用配(pei)件(jian)進行(xing)精密(mi)微(wei)變(bian)形量(liang)計(ji)量(liang)。
2、精密(mi)微(wei)分測(ce)頭(tou)由(you)滑動量(liang)桿(gan)、量(liang)桿(gan)套筒(tong)、讀(du)數(shu)內筒、讀(du)數(shu)外(wai)筒及(ji)高(gao)精密(mi)螺(luo)紋(wen)付組成(cheng)。其(qi)大(da)量(liang)程(cheng)25mm;小分度(du)(遊(you)標分度(du))0.0002mm;旋(xuan)轉(zhuan)外(wai)筒分度(du)0.002mm。
引(yin)伸(shen)計(ji)標定儀使(shi)用說明(ming):
1、根據被檢引(yin)伸(shen)計(ji)的規(gui)格型(xing)號及(ji)測(ce)試(shi)的(de)試(shi)樣(yang)規格,選擇(ze)與(yu)測(ce)試(shi)試(shi)樣(yang)基本壹(yi)致的(de)分離(li)試(shi)樣(yang)。
2、調整兩測(ce)量(liang)支臂(bi)的(de)位置(zhi),獲得(de)適宜的檢定(ding)空間(jian);調整兩測(ce)量(liang)支臂(bi)上(shang)偏(pian)心(xin)卡簧(huang)位置(zhi)以(yi)使(shi)兩分離(li)試(shi)樣(yang)保(bao)證(zheng)同軸;調整測(ce)微(wei)頭(tou)與(yu)下(xia)底座(zuo)的距離(li),以(yi)保(bao)證(zheng)測(ce)微(wei)頭(tou)的(de)有效(xiao)行(xing)程(cheng)。壹(yi)切(qie)調整好後(hou)註意旋(xuan)緊各(ge)個所需(xu)固(gu)緊部(bu)位,在(zai)檢定(ding)過(guo)程中除(chu)準許運(yun)動位移的(de)部(bu)分外(wai),都不準許有任何(he)滑動或(huo)松動。
3、引(yin)伸(shen)計(ji)檢定(ding)範(fan)圍(wei)及(ji)檢測(ce)點(dian)的選擇(ze)與(yu)測(ce)試(shi):檢定(ding)範(fan)圍(wei)應(ying)根據引(yin)伸(shen)計(ji)需要測(ce)試(shi)材料(liao)的技(ji)術(shu)參數決(jue)定。讀(du)數(shu)會(hui)加劇(ju)測(ce)量(liang)誤差的產(chan)生。而(er)整數單刻(ke)線(xian)對(dui)整讀(du)法(fa)清晰(xi)簡單(dan)準確(que),出(chu)現(xian)誤差的機率小(xiao),即(ji)便出(chu)現也(ye)會(hui)及(ji)時(shi)發現,因(yin)為(wei)整數刻(ke)度(du)倍(bei)讀(du)數(shu)的(de)誤差,其(qi)引(yin)伸(shen)計(ji)誤差值也(ye)會(hui)成(cheng)倍(bei)數(shu)增加,這(zhe)種(zhong)粗(cu)大(da)誤差會(hui)被很(hen)快及(ji)時(shi)發現。